Metricon model 2010 apparatus :

  Metricon model 2010 apparatus :     Equipement basé sur la technique du couplage par prisme destiné à la caractérisation des propriétés optiques des couches minces déposées sur différents substrats. Cet équipement permet la détermination de l’épaisseur, l’indice de réfraction et les pertes   d’absorption des couches minces.

Banc de caractérisation des MESFETS :

         Il permet l’obtention des I(V) ; gd(f), r…  

  crsict 2014: crsict.univ-annaba.dz